Перейти до головного вмісту
  • Закрити
    Переключити введення пошуку
  • Українська ‎(uk)‎
    • Русский ‎(ru)‎
    • Українська ‎(uk)‎
    • English ‎(en)‎
  • Вхід

logo1logo.png

Закрити
Переключити введення пошуку
  1. Курси
  2. Факультет інтелектуальних систем управління
  3. Кафедра інтелектуальних вимірювальних систем
  4. Архів
  • Більше
  • « Попередня сторінка
  • 1 Сторінка 1
  • 2 Сторінка 2
  • 3 Сторінка 3
  • » Наступна сторінка
Системні основи дослідження інформаційно-вимірювальних систем
Вступ до фаху (молодші бакалаври)
Основи програмування (молодші бакалаври)
Авіаційні вимірювально-обчислювальні комплекси
Інтелектуальна власність (к. 301 спец. 173)
Інтелектуальна власність (к. 301 спец. 272)
Взаємозамінність та стандартизація (к. 305 спец. 141)
Преддипломна практика
Основи взаємоузгодження ЗВТ
Пристрої відображення інформації
Методи та пристрої вимірювання параметрів
Преддипломна практика магістра
Сучасні засоби метрологічного забезпечення випробувань та якості продукції(КП)
Упр-я якістю товарів
Сучасні засоби метрологічного забезпечення випробувань та якості продукції
Методи поліпшення якості продукції
Інтелектуальна власність (к. 301 спец. 151)
Інтелектуальна власність (к. 304 спец. 122)
Інтелектуальна власність (к. 304 спец. 113)
Інтелектуальна власність (к. 302 спец. 122)
  • « Попередня сторінка
  • 1 Сторінка 1
  • 2 Сторінка 2
  • 3 Сторінка 3
  • » Наступна сторінка

Університет

  • Нормативні документи
  • Керівництво
  • Міжнародне співробітництво
  • Фотогалерея
  • Контакти

Абітуріентам

  • Профком студентів
  • Aсистент при вступі до ХАІ
  • Спеціальності
  • Правила прийому
  • Доуніверситетська освіта

Освіта

  • Факультети і кафедри
  • Графік освітнього процесу
  • Навчання іноземців
  • Наукова бібліотека
  • Наукові конференції

Наука

  • Спеціалізовані ради
  • Аспірантура і докторантура
  • Наукові видання
  • Науково-дослідна частина
  • Рада молодих учених

МОН

Центр занятости

НКП

Темпус

Завантажте мобільний додаток